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XTV 130C 电子元件用X射线测量检查检测分析装置 日本尼康工业CT
产品名称

XTV 130C 电子元件用X射线测量检查检测分析装置 日本尼康工业CT

对于陆续登场的高新电子元器件,表面的检测已经无法满足现在客户的检测要求。由于内部电子电路的连接短路断路不可直接观测,所以高性能的X射线实时检测显得如此重要并且有效。针对 BGA 检测、多层PCB焊锡检测而开发出来的 XTV130 X射线检测系统,让PCB电路板的缺陷检测分析变得更加迅速灵活。其中配置的 Inspect-X 软件,让自动检测以及电路板自动识别(选配)成为可能,以得到高效的检测处理能力。
编号
nikon01
数量
-
+
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产品描述
规格属性

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XTV 系列 X射线检查装置规格参数

  XT V 160 XT V 130C
X射线源 160kV 20W 穿透式靶 130kV 10W 穿透式靶
几何倍率 2.5x - 2400x 2.5X - 2400X
接收器 FPD FPD
倾斜角度 0 - 75度 0 - 75度
可检查范围 406 *406 mm 406 *406 mm
最大样品重量 5 kg 5 kg
机壳尺寸(L*W*H) 1200*1786*1916 mm 1200*1786*1916 mm
装置重量 1935 kg 1935 kg
自动检查功能 标准 选件
支持CT X,Tract 选件 选件
主要用途

电子部件的实时 / 自动检查

(BGA、μBGA、倒装芯片、实装印刷电路板)

电子部件的实时 / 自动检查

(BGA、μBGA、倒装芯片、实装印刷电路板)

暂未实现,敬请期待
暂未实现,敬请期待
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